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日本精工电子有限公司产品介绍


发表时间:2004-12-21 14:39:22  点击 11026 次

 
SEA系列产品 
集元素分析与镀层厚度测量于一体的荧光X射线分析仪              


SEA系列


作为知名手表制造厂商—日本精工电子有限公司以其精湛的技术享誉世界。在精密仪器制造方面,精工电子有限公司的科学仪器事业部于1978年研制出日本第一台荧光X射线镀层厚度测量仪,在随后的数十年里,精益求精,陆续推出了SFT3000系列SFT9000系列。

进入20世纪90年代,科技日新月异的发展对测量检测仪器提出了更高的要求。为了满足广大用户的需要,从1988年开始,精工电子有限公司研制出世界第一台集元素分析和镀层厚度定性定量测量于一体的SEA2000系列以及SEA5000系列,可以简单迅速的对塑料中镉、铅等有害金属进行准确的定性定量分析,并开创了X射线可以测量到碳等轻元素的先例。

现在,精工电子有限公司已经为世界各地的电子零件制造商,PCB制造商以及汽车零部件制造商提供了1000台以上的荧光X射线元素分析测量仪器,深受用户的信赖与好评。

量原理:
物质经X射线或者离子射线照射后,由于吸收多余的能量而成为不稳定状态。从不稳定状态要回到稳定状态,必须释放多余的能量,该能量以荧光或者光的形式被释放出来。荧光X射线元素分析仪器即是测量被释放出的荧光的能量以及强度,来进行定性和定量的分析。

量方法:
元素分析以及镀层厚度的测量方法可以分为标准曲线法和基本参数(FP)法。

标准曲线法是测量已知组成或者厚度的标准样品,根据荧光X射线的能量和强度与相应的厚度的对应关系,来得到标准曲线,以此曲线为标准来对未知的样品进行定性和定量的分析方法。

基本参数法(FP法)是在对均匀的样品进行测量时,使用分析线的强度可以用样品的成分和基本参数的函数来表示。换言之,从任意组成的样品所产生的分析线强度,都可以从这个基本参数来算出。

● 非破坏,非接触的荧光X线分析:

荧光X射线分析是指对样品进行X射线照射,通过测量得到的荧光X线的能量和强度,对样品进行定量和定性的分析方法。照射样品的荧光X射线强度仅仅只有数十瓦,所以绝对不会损坏样品。在贵重的考古学样品的分析和商品的品质管理方面有着重要的意义。

● 操作简单的能散分析:

采用能散分析的方法,不需要繁琐的样品前处理过程,可以对样品进行直接迅速的分析。使用高解析度的半导体检测器,可进行多元素的同时分析。不论样品是固体、液体还是气体的形态,都可以简单的进行测量和分析。通常仅仅需要五分种,便可完成对样品的定量和定性的分析。

● 可对应不同要求的丰富的软件支持:

提供丰富的软件支持,以迅速地完成从取得的能谱曲线来对样品进行的定性定量的分析。
* 自动辨别;
* 比较表示;
* 块体基本参数(FP)法;
* 块体检量线法;
* 薄膜基本参数(FP)法;
* 薄膜检量线法;
* 常规分析和可随时操作的划时代的软件内容;
即使不具备丰富的X射线的基本知识,也可以进行仪器的操作。

● 应用广泛的基本参数(FP)法:

基本参数(FP)法是和检量线法完全不同的定量分析法。基本参数(FP)法是尽量将吸收系数等物理定数和仪器的几何学配置信息结合起来,通过分析曲线强度,从而从理论上得出分析结果的方法。因此,可以在没有标准样的情况下对未知样品进行定量的分析。因为具有这样的功能,基本参数(FP)法被广泛的应用。(FP法:Fundamental Parameter Method)

● 通过能谱识别,对样品进行快速的定性分析:

通过对检测到的荧光X线能谱进行分析,可以知道是什么样的钢种、是什么地方的土壤或者泥沙,在产品中是否含有有害的金属元素。通过对比得到的分析样品的能谱曲线和事先储存的标准曲线进行比较,从它们的差别中可以判定对比的结果是“相同”、“大致相同”还是“不相同”。利用这个软件,还可以从保存的基本参数(FP)法用的标准文件里选择最合适的标准进行定量的分析。

● 简单方便的数据统计处理和数据解析操作:

具有数据的群组分类和特殊数据的抽出功能,得到的统计数据可以自动的通过表计算软件,得到平均值、标准偏差值、最大值、最小值等。同时可以针对ISO9000的基准进行数据管理。

应用软件


薄膜FP法的测量画面

区分的表示出各镀层的名称、厚度、组成以及强度,可以自由的设定表示文字的大小格式。

能谱识别

分“一致”、“大体一致”、“不一致”三段来判定能谱识别的结果。

定性分析(能谱比对)

通过能谱比对,测量出异物的峰值,通过和元

素周期表连接的KLM标记,可以简单的进行判定。

分析报告
使用微软的文书处理软件,可以在报告上自动附上测量条件、能谱、X线强度等数据。
块体基本参数(FP)法的测定画

在表示测量条件、测定能谱的同时,表示出辨别元素的浓度和强度。

分析功能的选择

可以随意的选择定性分析、常规分析、

各种定量分析、维护、数据处理等功能。

● 钢铁,非铁金属
* 合金,非铁金属的主要成分以及非纯静物的分析
* 原材料分析
* 底材的元素分析
* 焊锡的主要成分以及非纯静物的分析
* 贵重金属的主要成分以及非纯静物的分析
* 精炼的金属小块的分析

● 化学
* 催化剂中的非纯静物分析
* 橡胶中的非纯静物分析
* 涂料中的元素分析
* 石油、重油中的非纯静物分析
* 电镀液的主要成分以及非纯静物的分析

● 食品

* 各种食品中的异物分析
* 饲料中的元素分析
* 食品容器中的非纯静物分析

● 电气、电子
* 各种电子零件的电镀厚度、组成的测量
* 反面电极的多层薄膜的厚度、组成的测量

● 环境
* 土壤中的元素分析
* 废水中的元素分析
* 燃烧灰的分析

● 塑料制品

* 塑料中镉等有害金属检测分析
* 电子产品外壳中所含有害金属的检测

● 陶瓷
* 陶瓷的元素分析
* 玻璃的元素分析
* 涂料的元素分析

● 其他
* 纤维中的元素分析
* 考古学样品的元素分析
* 宝石的元素分析
* 各种样品的元素分布测量

现场对塑料中镉、铅等有害重金属的有效检测
● 分析、检查方法简便、迅速。
● 可以修正因样品的形状和放置方法不同,给测量带来的误差。
● 分析的正确性在±10%以内(分析标准样品时)。
● 对实际样品的分析结果与ICP-OES的结果非常一致。
分析流程(整个测量所需时间为5分钟)

● SEA2100:标准配置/SEA5000:选项配置 ● SEA2100/SEA5000:选项配置

咨询地址:天津市和平区大同道20号(300040)-----天津市电子学会

电话:022-23304241                    传真:022-23302458

E-mail: zhang@tj-ei.com/tjdzxh@163.com

 


 

 

 

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